源码测量全单元
半导体设备和其他电子组件可商业部署前,必须按各种环境功能测试定性,以确保符合规格传统轮廓测试双数字多计和电源常耗时省钱独立高精度功能设备最适合处理这些应用源量单位提供:
集成化
- SMU综合数个设备功能,包括数米多电源、电源电流源、ohmets和函数生成器
- 可用作存储设备记录和传输数据或作为大测试系统的一部分
准确性
- 源测量数以百计电流直达微粒范围,不损解析或速度
功能性
- 七种操作方式处理各种情况,包括VS/IM、VS/VM、IS/VM、IS/IM、VS、ISIS和VS/IM或IS/VM*
- 专用软件执行 I/V曲线跟踪
- 内置自定义扫荡、斜坡和pwm等多套半导体测试专用函数
*
开工VS=源电压
二叉m=测量当前
3级IS=源电流
4级VM=测压
GS200 |
GS610 |
GS820 |
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函数转换 |
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生成 |
电压或电流 |
电压或电流 |
隔离2通道电压/电压电流/电流电压/电流电压/电流电流 |
生成模式 |
DC或脉冲 |
DC或脉冲 |
DC或脉冲 |
电压生成 |
10mV至30V 分辨率到100nV |
200mV,1mV分辨率至110V |
200mV,1mV解析至18V |
当前生成 |
一米到二百米 10nA决议 |
20微A,100pA分辨率3.2A |
200nA,1pA解析3.2A |
扫荡模式 |
线性日志程序 |
线性日志程序 |
线性日志程序 |
度量 |
电压电流阻抗 |
电压电流阻抗 |
电压电流阻抗 |
数据存储 |
最高10K数据点 |
达65.5k数据点 |
达100k数据点 |
脉冲宽度 |
10微秒或以上 |
100微sec至3600秒,1微sec分辨率 |
50微sec至3600秒,1微sec分辨率 |
周期时间 |
0.1秒3600秒 |
1mS至3600秒,1msec分辨率 |
100微sec至3600秒,1微sec分辨率 |
输出噪声 |
100微V-p(10V范围,DC至10kHz) 3mAp-p(100mA范围,DC至10kHz) |
8mvP-PDC20兆赫 |
20mVPDC对20MHz |
接口 |
GPIB和USB标准 |
GPIB,USB和RS232标准,Ethernet可选 |
GPIB、USB、RS232和Ethernet所有标准 |
源量单位多功能设备可精确源码并监视电压和电流正因如此,这些设备有许多应用发现使用案例
- 参数描述使用源量单位转换器
- GS610820
- 目的包括稳定电源和电路刺激测量响应
源度量单元综合电源和数字多米最优特征并有多个应用范围,从电池模拟器、半导体特征描述到电源电子效率测试
大型公开测试公司2010年兴旺企业
横川仪表AC电源输入设计为三叉连接(其中一环GND插针)。在世界某些地方 PC出售AC电源电缆2pin经常时间表示
下附文档详细描述GS200电压/当前源从DC20MHz典型输出噪声
setting程序模式文件.0:Setting成功更改
GP-IB命令GS200DC电荷/当前源共享模式与7651相同可切换到488.2模式
串行/并行连接多GS单元以提升最大电压/流电值的可能性,推算值在最大电压/流电范围以内放大
GS610GS820多通道测量单元输出与覆盖例隔绝因此,如果想放大输出电压超过1单元(或1C),则必须分串连接系统如果要提高输出量...
手册
- GS610源量度单元1.9MB
