AQ6377光谱分析器1900-5500纳米

密钥函数

数据日志函数

记录分析结果,如分布式激光二极管分析数据以及多点测量并贴时标达万分

高级Marker函数

添加标记获取电光谱密度和指定频谱综合功率这一新特征便于直接从频谱获取OSNR信号值,无论调制或非调制

建设自动化测试系统

多亏内部宏编程函数 所有AQ6370Series模型 通过远程接口可执行自动测量和控制外部设备

GP-IB、RS-232和Ethernet端口使用标准SCPI兼容或专有AQ6317兼容命令远程控制工具LabviEWZ

内置校准源

环境温度变化、振荡和休克会影响光谱分析器等高精度产品的测量精度洋川OSAs必须能够提供设计精确度量因此,我们的仪器配有光源校准

标定过程完全自动化,只需2分钟完成内容包括:

• 光向对齐函数自动对齐单色板光学路径以确保水平精度
• 波长校准函数自动校准频谱分析器使用参考源以确保波长精度

内置分析函数提高测试效率

频谱宽度分析

可使用下列四类计算显示频谱宽度和中心波长

• THRESH方法
• EnVELOPE方法
• RMS方法
• EAKRMS方法

Nitch宽度测量

使用此函数可测量V型或U型波长特征滤波式测量传递带宽/nch宽度

光源分析

光源参数可以从DFB-LD、FP-LD和LED.PD测量中测出每种光源波形分析

可测量dUT极化模式分解(如光纤),方法结合分析器、极化控制器、极化器和放大自发光源、高输出LED光源或其他宽带光源

WDM分析

使用此函数很容易分析WDM传输信号OSNR传输系统50千兆赫间距WDM信号波长、水平、波长间隔和OSNR测量可合到1024通道,分析结果可显示在数据表中

光amp分析

增噪图测量信号光波变换光放大器和光离光放大器

光滤特征测量

光滤特征可用测量波形测量,从源到光滤波测量,从量测波形光滤波测量,从量测波形光滤波输出分析不仅可用单一模式光学滤波分析,而且可用多模式滤波分析(例如WDM滤波分析)。

单行光度波动测量

函数用于测量特定波长级随时间变化扫描宽度定为0纳米并测量单波长光横向轴为时轴光源输入光纤时对光轴对齐等目的有用

模板分析

模板函数用测量波形比较预置参考数据(模板数据)。此外,如果使用函数显示测量屏幕上目标频谱(目标线),目标频谱可参考同时调整光学设备光轴

GO/NOGO判断

Go/NOGO测试函数对比用户预设参考数据(模板数据)并测试测量波形(Go/NOGO测试)。
函数可有效用于生产线传递/故障测试等情况

行标记/缩放区分析

工具分析嵌入边界的信号 通过线标或缩放区选择